1. Репозиторий БГПУ

Просмотр собрания по группе - Темы кремний

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
Или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 20 из 45  Дальше >
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
1988Deformation mechanism maps and gettering diagrams for single-crystal siliconКолешко, В. М.; Кирюшин, И. В.
1988Mechanical stresses in low pressure chemically vapour deposited silicon filmsКолешко, В. М.; Белицкий, В. Ф.; Кирюшин, И. В.
2013Влияние ионно-лучевой обработки на нанотвердость и смачиваемость поверхности кремнияБарайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович; Сильванович, Дмитрий Александрович
2013Влияние ионно-лучевой обработки на нанотвердость и смачиваемость поверхности кремнияБарайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2010Влияние облучения ионами Хе+ на диффузионные процессы в кремнии при ионно-ассистированном осаждении покрытийМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2010Влияние облучения кремния ионами Хе+ на повреждение его структуры, топографию и смачиваемость нанесенных на него Ti и Со покрытийМихалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Ермаков, Ю. А.; Черныш, B. C.
2007Дефектообразование в кремнии при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2008Дефектообразование в кремнии при нанесении металлопокрытий в условиях ионного ассистированияМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2006Диагностика поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2013Диффузионные процессы в кремнии, модифицированном осаждением Со покрытий в сочетании с облучением ионами Хе+Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2016Значение микроэлементов для организма человека.Комяк, Ядвига Францевна
2013Изучение Zr/Si-структур, полученных методом ионно-ассистируемого осажденияБобрович, Олег Георгиевич; Ташлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович
2006Изучение ядерно-физическими методами металлосодержащих (Ti, Со)-покрытий, осажденных методом ионного ассистирования на кремнийБобрович, Олег Георгиевич; Ташлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Барайшук, Сергей Михайлович
2004Ионно-ассистируемое осаждение тонких пленок на основе С, Ti, Zr, Мо на кремнийТашлыков, Игорь Серафимович; Веш, В.; Вендлер, Э.
1978Исследование процессов высокотемпературного внедрения ионов углерода в кремнийГуманский, Г. А.; Комаров, Ф. Ф.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Тишков, В. С.
1974Исследование радиационных дефектов в кремнии, имплантированном ионами углеродаГуманский, Г. А.; Мудрый, А. В.; Патрин, А. А.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Шамаль, В. А.
1975Исследование слоев кремния, имплантированных стехиометрическими дозами ионов углеродаБелый, И. М.; Гуманский, Г. А.; Соловьев, В. С.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Тишков, В. С.; Гетц, Г.; Хель, К.; Швабе, Ф.
2015Композиционный состав и повреждение кремния при нанесении (Co,Zr,W)покрытий в условиях ионного ассистированияТашлыков, Игорь Серафимович; Бобрович, Олег Георгиевич
2009Композиционный состав и повреждение поверхности кремния при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Бобрович, Олег Георгиевич; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович; Антонович, И. П.
2012Локализация атомов Со в облученном ионами ксенона кремнии при ионно-ассистированном нанесении на него тонких Со пленокМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
Отображение результатов 1 до 20 из 45  Дальше >