Skip navigation
Главная страница
Просмотр
Разделы
и коллекции
Просмотр по:
Даты выпуска
Авторы
Заголовки
Темы
Справка
Зарегистрированным:
Мой архив
ресурсов
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Репозиторий БГПУ
ФАКУЛЬТЕТЫ. ИНСТИТУТЫ
Физико-математический факультет
Научные публикации физико-математического факультета
поиск
Поиск:
Весь архив электронных ресурсов
ФАКУЛЬТЕТЫ. ИНСТИТУТЫ
Физико-математический факультет
Научные публикации физико-математического факультета
Запрос
Текущие фильтры:
Название
Автор
тема
Дата выпуска
Равно
Содержит
ID
Не равно
Не Содержит
Not ID
Начать новый поиск
Добавить фильтры:
Используйте фильтры для уточнения результата поиска..
Название
Автор
тема
Дата выпуска
Равно
Содержит
ID
Не равно
Не Содержит
Not ID
Результаты 11-20 из 32.
Назад
1
2
3
4
Дальше
Найденные ресурсы:
Дата выпуска
Название
Автор(ы)
2002
Elastomer surface modification by means of SIAD of metal-based layers
Tashlykov, I. S.
;
Kasperovich, A. V.
;
Wolf, G. K.
1995
RBS depth profiling of metal coatings on elastomer
Kasperovich, A. V.
;
Kulikauskas, V. S.
;
Tashlykov, I. S.
;
Shadrukhin, M. G.
1986
Change in structural properties of thin crystals of Si under electron irradiation
Komarov, F. F.
;
Tashlykov, I. S.
;
Korschunov, F. N.
;
Kamyshan, A. S.
;
Kotov, E. V.
;
Plaschinski, G. I.
1984
The influence of dose rate and analysis procedure on measured damage in P+ ion implanted GaAs
Carter, G.
;
Nobes, M. J.
;
Tashlykov, I. S.
1999
A simple theory and experimental investigation of ion-assisted deposition of cobalt coating on silicon
Carter, G.
;
Colligon, J.
;
Tashlykov, I. S.
2003
Composition of thin C, Ti, Zr and Mo-based layers fabricated on Si by means of SIAD and accompanying radiation damage of Si surface
Tashlykov, I. S.
;
Wesch, W.
;
Wendler, E.
1997
A model of oxide layer growth on Ag+ and Pt+ ion implanted nickel anode in aqueous alkaline solution
Tashlykov, I. S.
1980
Backscattering measurements of P+ implanted GaAs crystals
Tashlykov, I. S.
2010
Composition of Co films/Si substrate systems prepared by means of self-ion assisted deposition and accompanying silicon damage
Tashlykov, I. S.
;
Zhukowski, Pawel
;
Mikhalkovich, Oleg
;
Ermakov, Yuri
;
Chernysh, Vladimir
2014
Surface properties of Me/Si structures prepared by means of self-ion assisted deposition
Tashlykov, I. S.
;
Zhukowski, P.
;
Mikhalkovich, O.
;
Baraishuk, S.
Открыть
Автор
5
Zhukowski, P.
4
Bobrovich, O. G.
4
Kasperovich, A. V.
3
Carter, G.
3
Gremenok, V. F.
3
Kulikauskas, V. S.
3
Mikhalkovich, O. M.
3
Shadrukhin, M. G.
3
Wolf, G. K.
2
Colligon, J. S.
.
Следующая >
Тема
31
БГПУ
5
ion implantation
4
gallium arsenide
4
wettability
3
SIAD
3
silicon
2
adhesion
2
atomic force microscopy
2
cobalt
2
composition
.
Следующая >
Издано
10
2010 - 2015
6
2000 - 2009
8
1990 - 1999
8
1980 - 1989