Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/31086| Название: | Composition of Co films/Si substrate systems prepared by means of self-ion assisted deposition and accompanying silicon damage |
| Авторы: | Tashlykov, I. S. Zhukowski, Pawel Mikhalkovich, Oleg Ermakov, Yuri Chernysh, Vladimir |
| Ключевые слова: | БГПУ Co/Si structures composition damage topography |
| Дата публикации: | 2010 |
| Серия/номер: | Przegląd elektrotechniczny (Electrical Review);r. 86, nr 7, pp. 122–124 |
| Краткий осмотр (реферат): | Composition of Co films/Si substrate systems prepared by means of self-ion assisted deposition and accompanying silicon damage. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/31086 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2-Przeglad elektrotecniczny-2010-86-7-МОМ.pdf | 498,99 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.