Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/9190
Название: Change in structural properties of thin crystals of Si under electron irradiation
Авторы: Komarov, F. F.
Tashlykov, I. S.
Korschunov, F. N.
Kamyshan, A. S.
Kotov, E. V.
Plaschinski, G. I.
Ключевые слова: БГПУ
silicon
thin crystal
structural properties
electron irradiation
Дата публикации: 1986
Издатель: Radiation effects. Vol. 91
Серия/номер: ;P. 293–295
Краткий осмотр (реферат): The action of electron irradiation on the structural properties of silicon was studied.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/9190
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
6-1-Rad_Eff-1986-91(293-295).pdf586,63 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.