Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/9190
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Komarov, F. F. | - |
dc.contributor.author | Tashlykov, I. S. | - |
dc.contributor.author | Korschunov, F. N. | - |
dc.contributor.author | Kamyshan, A. S. | - |
dc.contributor.author | Kotov, E. V. | - |
dc.contributor.author | Plaschinski, G. I. | - |
dc.date.accessioned | 2016-01-20T11:13:27Z | - |
dc.date.available | 2016-01-20T11:13:27Z | - |
dc.date.issued | 1986 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/9190 | - |
dc.description.abstract | The action of electron irradiation on the structural properties of silicon was studied. | ru_RU |
dc.language.iso | en | ru_RU |
dc.relation.ispartofseries | Radiation effects;vol. 91, pp. 293–295 | - |
dc.subject | БГПУ | ru_RU |
dc.subject | silicon | ru_RU |
dc.subject | thin crystal | ru_RU |
dc.subject | structural properties | ru_RU |
dc.subject | electron irradiation | ru_RU |
dc.title | Change in structural properties of thin crystals of Si under electron irradiation | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
6-1-Rad_Eff-1986-91(293-295).pdf | 586,63 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.