Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/9190| Название: | Change in structural properties of thin crystals of Si under electron irradiation |
| Авторы: | Komarov, F. F. Tashlykov, I. S. Korschunov, F. N. Kamyshan, A. S. Kotov, E. V. Plaschinski, G. I. |
| Ключевые слова: | БГПУ silicon thin crystal structural properties electron irradiation |
| Дата публикации: | 1986 |
| Серия/номер: | Radiation effects;vol. 91, pp. 293–295 |
| Краткий осмотр (реферат): | The action of electron irradiation on the structural properties of silicon was studied. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/9190 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 6-1-Rad_Eff-1986-91(293-295).pdf | 586,63 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.