1. Репозиторий БГПУ

Просмотр собрания по группе - Темы тонкие пленки

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
Или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 20 из 25  Дальше >
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
1990Electromigration threshold of thin-film conductorsКолешко, В. М.; Кирюшин, И. В.
1990Electromigration, stresses, and pulse effects in thin-film conductorsКолешко, В. М.; Кирюшин, И. В.
1988Mechanical stresses in low pressure chemically vapour deposited silicon filmsКолешко, В. М.; Белицкий, В. Ф.; Кирюшин, И. В.
1986Stress relaxation in thin aluminium filmsКолешко, В. М.; Белицкий, В. Ф.; Кирюшин, И. В.
1988Stresses in thin polycrystalline silicon filmsКолешко, В. М.; Белицкий, В. Ф.; Кирюшин, И. В.
2006Диагностика поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2012Диэлектрические свойства тонких пленок мультиферроиков Bi1–xRxFeO3 (R=La, Nd, Gd)Ревинский, А. Ф.; Макоед, И. И.; Янушкевич, К. И.; Галяс, А. И.; Демиденко, О. Ф.; Соболь, Валерий Романович; Дубина, Т. В.; Ярмолич, М. В.
2018Исследование влияния условия формирования на микроструктуру тонкопленочных медьсодержащих халькогенидных полупроводниковых материалов, используемых для создания солнечных фотопреобразователейБарайшук, Сергей Михайлович
2018Исследование влияния условия формирования на микроструктуру тонкопленочных медьсодержащих халькогенидных полупроводниковых материалов, используемых для создания солнечных фотопреобразователейБарайшук, Сергей Михайлович
2015Исследование структуры и свойств тонких пленок полупроводниковых материалов систем PbS и SnS, получаемых методами физического вакуумного напыленияТашлыков, Игорь Серафимович; Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна; Михалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.; Яковенко, Юлия Сергеевна
2009Композиционный состав и повреждение поверхности кремния при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Бобрович, Олег Георгиевич; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович; Антонович, И. П.
2021КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК CU2ZNSN(S,SE)4Станчик, А. В.; Чумак, В. А.; Труханова, Е. Л.; Барайшук, Сергей Михайлович
2015Морфология и смачиваемость поверхности структур пленка Mo, Al, Al+1ат.%Cr/стекло, сформированных ионно-ассистированным осаждениемМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна; Яковенко, Юлия Сергеевна; Куликаускас, В.С.; Барайшук, Сергей Михайлович; Бобрович, Олег Георгиевич; Ташлыков, Игорь Серафимович
2016Морфология поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки»Барайшук, Сергей Михайлович; Башкиров, С. А.; Гременок, В. Ф.; Михалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.
2013Морфология поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки»Барайшук, Сергей Михайлович; Башкиров, С. А.
20-дек-2016МОРФОЛОГИЯ ПОВЕРХНОСТИ ТОНКИХ ПЛЕНОК SnS, ПОЛУЧАЕМЫХ МЕТОДОМ «ГОРЯЧЕЙ СТЕНКИ»Барайшук, Сергей Михайлович; Башкиров, С. А.; Гременок, В. Ф.; Михалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.
1994Перенос заряда и сверхпроводимость Bi2Sr2CaCu2OхСоболь, Валерий Романович; Мазуренко, О. Н.
2007Повреждение структуры кремния при нанесении тонких пленок методом ИАНПУСТашлыков, Игорь Серафимович; Михалкович, Олег Михайлович
2013Радиационно-управляемый массоперенос в кремнии при нанесении тонких металлических пленокМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2009Рекристаллизация тонких пленок ГЦК-металловЧапланов, А. М.; Маркевич, М. И.; Белая, Ольга Николаевна; Щербакова, Е. И.
Отображение результатов 1 до 20 из 25  Дальше >