Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/27600| Название: | Electromigration threshold of thin-film conductors |
| Авторы: | Колешко, В. М. Кирюшин, И. В. |
| Ключевые слова: | электромиграция тонкие пленки массоперенос механические напряжения механизмы деформации |
| Дата публикации: | 1990 |
| Серия/номер: | Thin Solid Films;192 |
| Краткий осмотр (реферат): | Установлена связь между порогом электромиграции в тонкопленочных проводниках и механическими свойствами металлов. С помощью диаграммы механизмов деформации рассмотрены способы релаксации механических напряжений |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/27600 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 1.pdf | 930,72 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.