Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/27600
Название: Electromigration threshold of thin-film conductors
Авторы: Колешко, В.М.
Кирюшин, И.В.
Ключевые слова: электромиграция
тонкие пленки
массоперенос
механические напряжения
механизмы деформации
Дата публикации: 1990
Серия/номер: Thin Solid Films;192
Краткий осмотр (реферат): Установлена связь между порогом электромиграции в тонкопленочных проводниках и механическими свойствами металлов. С помощью диаграммы механизмов деформации рассмотрены способы релаксации механических напряжений
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/27600
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
1.pdf930,72 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.