Electromigration threshold of thin-film conductors
| dc.contributor.author | Колешко, В. М. | |
| dc.contributor.author | Кирюшин, Игорь Владимирович | |
| dc.date.accessioned | 2017-10-09T10:31:58Z | |
| dc.date.available | 2017-10-09T10:31:58Z | |
| dc.date.issued | 1990 | |
| dc.description.abstract | Установлена связь между порогом электромиграции в тонкопленочных проводниках и механическими свойствами металлов. С помощью диаграммы механизмов деформации рассмотрены способы релаксации механических напряжений | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/27600 | |
| dc.language.iso | en | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Thin Solid Films;192 | |
| dc.subject | электромиграция | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | массоперенос | ru_RU |
| dc.subject | механические напряжения | ru_RU |
| dc.subject | механизмы деформации | ru_RU |
| dc.title | Electromigration threshold of thin-film conductors | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |