Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/28176| Название: | Electromigration, stresses, and pulse effects in thin-film conductors |
| Авторы: | Колешко, В. М. Кирюшин, И. В. |
| Ключевые слова: | электродиффузия массоперенос механические напряжения импульсы тока переходные процессы тонкие пленки |
| Дата публикации: | 1990 |
| Серия/номер: | Physica Status Solidi (a);117 |
| Краткий осмотр (реферат): | Рассмотрена модель массопереноса и релаксации механических напряжений в тонкопленочных проводниках при действии импульсов тока, получено и решено численно соответствующее интегро-дифференциальное уравнение |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/28176 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 5.pdf | 951,77 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.