Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/28176
Название: Electromigration, stresses, and pulse effects in thin-film conductors
Авторы: Колешко, В.М.
Кирюшин, И.В.
Ключевые слова: электродиффузия
массоперенос
механические напряжения
импульсы тока
переходные процессы
тонкие пленки
Дата публикации: 1990
Серия/номер: Physica Status Solidi (a);117
Краткий осмотр (реферат): Рассмотрена модель массопереноса и релаксации механических напряжений в тонкопленочных проводниках при действии импульсов тока, получено и решено численно соответствующее интегро-дифференциальное уравнение
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/28176
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
5.pdf951,77 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.