Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/28176
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКолешко, В. М.-
dc.contributor.authorКирюшин, И. В.-
dc.date.accessioned2017-11-03T09:24:10Z-
dc.date.available2017-11-03T09:24:10Z-
dc.date.issued1990-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/28176-
dc.description.abstractРассмотрена модель массопереноса и релаксации механических напряжений в тонкопленочных проводниках при действии импульсов тока, получено и решено численно соответствующее интегро-дифференциальное уравнениеru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.relation.ispartofseriesPhysica Status Solidi (a);117-
dc.subjectэлектродиффузияru_RU
dc.subjectмассопереносru_RU
dc.subjectмеханические напряженияru_RU
dc.subjectимпульсы токаru_RU
dc.subjectпереходные процессыru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.titleElectromigration, stresses, and pulse effects in thin-film conductorsru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
5.pdf951,77 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.