поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результата поиска..


Результаты 101-110 из 138.
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2013Свойства поверхности системы Мо/подложка, формируемой при ионном ассистированииТашлыков, Игорь Серафимович; Туровец, А. И.
2012Морфология и смачиваемость поверхности системы Мо/стеклянная подложка, формируемой методом SIADТуровец, А. И.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2009Элементный состав, топография и смачиваемость поверхности графита и кремния, облученных ионами ксенонаТуровец, А. И.; Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2010Структура и свойства поверхности графита, облученного ионами ксенонаТашлыков, Игорь Серафимович; Туровец, А. И.
2010Элементный состав,структура и физико-механические свойства поверхности кремния,модифицированной ионно-ассистируемым осаждением покрытий на основе Ti,Co,Zr и MoТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Барайшук, Сергей Михайлович
2012Элементный состав и распределение компонентов по глубине в структурах Pd/Fe,полученных методом динамического атомного перемешиванияТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Литвинов, Д. А.
2010Изучение поверхности структур металл / кремний, приготовленных ионно-ассистированным нанесением покрытийТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Барайшук, Сергей Михайлович
2006Механические свойства и топография поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным осаждением покрытийТульев, Валентин Валентинович; Ташлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Уляшко, П. В.
2009Модифицирование нанотвердости и морфологии поверхности кремния ионно-ассистированным нанесением тонких пленокБарайшук, Сергей Михайлович; Тульев, Валентин Валентинович; Гременок, В. Ф.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2011Состав и нанотвёрдость покрытий на Si,полученных методом ионно-ассистированного осажденияТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Тульев, Валентин Валентинович; Гременок, В. Ф.