Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/5354
Название: Elemental composition, topography and wettability of PbxSn1-xS thin films.
Авторы: Tashlykov, I. S.
Turavets, A. I.
Gremenok, V. F.
Zhukowski, P.
Ключевые слова: PbSnS films
RBS
scanning ion microscopy
wettability
Дата публикации: 2014
Издатель: Acta Physica Polonica A.
Серия/номер: ;V. 125 (2014) No. 6. P. 1339-1343.
Краткий осмотр (реферат): PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation (HWVE). The Rutherford backscattering technique was employed for the investigation of PbxSn1-xS thin films composition. With a help of AFM the main stages in the development of the thin films were characterized. Contact angle measurements of water drop on PbxSn1-xS thin films have been conducted on our original setup.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/5354
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2014ActaPhysPolTuravets.pdf965,2 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.