Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/5354Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Tashlykov, I. S. | - |
| dc.contributor.author | Turavets, A. I. | - |
| dc.contributor.author | Gremenok, V. F. | - |
| dc.contributor.author | Zhukowski, P. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-06-12T11:49:17Z | - |
| dc.date.available | 2015-06-12T11:49:17Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/5354 | - |
| dc.description.abstract | PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation (HWVE). The Rutherford backscattering technique was employed for the investigation of PbxSn1-xS thin films composition. With a help of AFM the main stages in the development of the thin films were characterized. Contact angle measurements of water drop on PbxSn1-xS thin films have been conducted on our original setup. | ru_RU |
| dc.language.iso | en | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Acta Physica Polonica A;vol. 125, No. 6, pp. 1339-1343 | - |
| dc.subject | PbSnS films | ru_RU |
| dc.subject | RBS | ru_RU |
| dc.subject | scanning ion microscopy | ru_RU |
| dc.subject | wettability | ru_RU |
| dc.title | Elemental composition, topography and wettability of PbxSn1-xS thin films | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2014ActaPhysPolTuravets.pdf | 965,2 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.