Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/32087| Название: | Локализация атомов Со в облученном ионами ксенона кремнии при ионно-ассистированном нанесении на него тонких Со пленок |
| Авторы: | Михалкович, Олег Михайлович Ташлыков, Игорь Серафимович |
| Ключевые слова: | БГПУ кремний ионно-ассистированное нанесение тонких пленок Со методом ОПАСИ диффузионные процессы дефектообразование |
| Дата публикации: | 2012 |
| Серия/номер: | XLII международная Тулиновская конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами. Москва, 29 мая – 31 мая 2012 г.;c. 137 |
| Краткий осмотр (реферат): | Изучен процесс массопереноса в кремнии атомов Со покрытия, нанесенного методом ОПАСИ, и влияние предварительной имплантации ксенона в кремний на диффузионные процессы в нем при последующем нанесении покрытий. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/32087 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 3-ФВЗЧК-2012-137-МОМ.pdf | 316,17 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.