Исследование образования дефектов в GaAs при ионно-лучевом легировании

Abstract

Темой исследования было изучение образования дефектов, определение их распределения по глубине в кристаллах арсенида галлия при имплантации ионов Р+. Исследование выполнялось неразрушающим методом ОР ускоренных легких ионов.

Description

Keywords

БГПУ, ионно-лучевое легирование, дефектообразование, арсенид галлия, ион фосфора

Citation

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By