Исследование образования дефектов в GaAs при ионно-лучевом легировании

dc.contributor.authorКомаров, Ф.Ф.
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович
dc.date.accessioned2016-01-21T13:26:00Z
dc.date.available2016-01-21T13:26:00Z
dc.date.issued1977
dc.description.abstractТемой исследования было изучение образования дефектов, определение их распределения по глубине в кристаллах арсенида галлия при имплантации ионов Р+. Исследование выполнялось неразрушающим методом ОР ускоренных легких ионов.ru_RU
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/9233
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseriesДоклады АН БССР; т. XXI, № 10, с. 900–903
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectионно-лучевое легированиеru_RU
dc.subjectдефектообразованиеru_RU
dc.subjectарсенид галлияru_RU
dc.subjectион фосфораru_RU
dc.titleИсследование образования дефектов в GaAs при ионно-лучевом легированииru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
6-30-Докл_АН наук-1977-21-10(900-903).pdf
Size:
666.03 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
105 B
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: