Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/9221
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTashlykov, I. S.-
dc.date.accessioned2016-01-21T11:20:11Z-
dc.date.available2016-01-21T11:20:11Z-
dc.date.issued1982-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/9221-
dc.description.abstractNon-destructive nuclear physics testing techniques the Rutherford backscattering in conjunction with ion channeling method and method of nuclear reactions have been used to control quality and element composition of singl-crystal GaAs implanted by Al+.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.relation.ispartofseries10 World conference on non-destructive testing. Moscow, 1982;pp. 150–157-
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectnon-destructive quality control and microanalysisru_RU
dc.subjection implantationru_RU
dc.subjectsolidru_RU
dc.titleNon-destructive quality control and microanalysis of ion-implanted solidsru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
6-18-Konf_NDT-Moskva-1982.pdf886,31 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.