Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/9221
Название: Non-destructive quality control and microanalysis of ion-implanted solids
Авторы: Tashlykov, I. S.
Ключевые слова: БГПУ
non-destructive quality control and microanalysis
ion implantation
solid
Дата публикации: 1982
Издатель: 10 World conference on non-destructive testing. Москва. 1982, 2–26
Серия/номер: ;С. 150–157
Краткий осмотр (реферат): Non-destructive nuclear physics testing techniques the Rutherford backscattering in conjunction with ion channeling method and method of nuclear reactions have been used to control quality and element composition of singl-crystal GaAs implanted by Al+.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/9221
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
6-18-Konf_NDT-Moskva-1982.pdf886,31 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.