Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/9221| Название: | Non-destructive quality control and microanalysis of ion-implanted solids |
| Авторы: | Tashlykov, I. S. |
| Ключевые слова: | БГПУ non-destructive quality control and microanalysis ion implantation solid |
| Дата публикации: | 1982 |
| Серия/номер: | 10 World conference on non-destructive testing. Moscow, 1982;pp. 150–157 |
| Краткий осмотр (реферат): | Non-destructive nuclear physics testing techniques the Rutherford backscattering in conjunction with ion channeling method and method of nuclear reactions have been used to control quality and element composition of singl-crystal GaAs implanted by Al+. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.bspu.by/handle/doc/9221 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 6-18-Konf_NDT-Moskva-1982.pdf | 886,31 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.