Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/31405
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМихалкович, Олег Михайлович-
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович-
dc.date.accessioned2018-03-03T12:58:06Z-
dc.date.available2018-03-03T12:58:06Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/31405-
dc.description.abstractОбсуждаются результаты изучения композиционного состава, повреждения структуры поверхности (100) Si, модифицированного ионно-ассистированным нанесением Ti, Со покрытий в условиях самооблучения (ИАНПУС), используя метод резерфордовского обратного рассеяния в сочетании с каналированием (РОР/КИ).ru_RU
dc.language.isootherru_RU
dc.publisherБГУ, Минскru_RU
dc.relation.ispartofseriesСборник научных трудов III Международной научной конференции «Материалы и структуры современной электроники». Минск, 25–26 сентября 2008 г.;с. 136–140-
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectкремнийru_RU
dc.subjectионно-ассистированное нанесение покрытий в условиях самооблучения (ИАНПУС)ru_RU
dc.subjectметод резерфордовского обратного рассеяния в сочетании с каналированием (РОР/КИ)ru_RU
dc.titleДефектообразование в кремнии при нанесении металлопокрытий в условиях ионного ассистированияru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
3-МССЭ-2008-136-МОМ.pdf985,47 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.