Исследование процессов высокотемпературного внедрения ионов углерода в кремний

dc.contributor.authorГуманский, Г. А.
dc.contributor.authorКомаров, Ф. Ф.
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович
dc.contributor.authorТишков, В. С.
dc.date.accessioned2016-01-21T13:13:00Z
dc.date.available2016-01-21T13:13:00Z
dc.date.issued1978
dc.description.abstractТемой работы было изучение образования дефектов, распределения их по глубине кристалла, а также выяснение пространственного распределения внедренных атомов углерода; изучение структурных превращений при высокотемпературной имплантации ионов С+ в кристаллы кремния. Исследования выполнялись методом обратного рассеяния ускоренных ионов Не+ и дифракции электронов на отражение.ru_RU
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/9231
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseriesСборник докладов Международной конференции по ионной имплантации в полупроводниках. Райнхардсбрунн, ГДР. 23–29 октября 1977 г.;т. 1, с. 15–24
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectкремнийru_RU
dc.subjectион углеродаru_RU
dc.subjectдефектообразованиеru_RU
dc.subjectвысокая температураru_RU
dc.subjectионная имплантацияru_RU
dc.titleИсследование процессов высокотемпературного внедрения ионов углерода в кремнийru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
6-28-Konf-GDR-oct_1977.pdf
Size:
937.75 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
105 B
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: