Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/9230
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorГуманский, Г.А.-
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович-
dc.date.accessioned2016-01-21T13:00:50Z-
dc.date.available2016-01-21T13:00:50Z-
dc.date.issued1978-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/9230-
dc.description.abstractПриводится анализ пространственного распределения углерода, внедренного в кремний методом ионно-лучевого легирования, а также сведения об изменениях профилей пространственного распределения углерода в кремнии при термообработке и о глубинном распределении атомов матрицы (кремния) в имплантированном слое. Исследование выполнено неразрушающим методом – методом обратного рассеяния ускоренных до энергии 1,4 мэВ ионов гелия.ru_RU
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseriesЭлектронная техника. Сер. Микроэлектроника;вып. 5(77), c. 65–71-
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectкремнийru_RU
dc.subjectуглеродru_RU
dc.subjectионная имплантацияru_RU
dc.titleРаспределение углерода в кремнии при ионной имплантацииru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
6-27-Эл_техн-1978-5(77)-(65-71).pdf790,3 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.