Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/7384
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Бобрович, Олег Георгиевич | - |
dc.contributor.author | Ташлыков, Игорь Серафимович | - |
dc.contributor.author | Глухатаренко, Т. И. | - |
dc.date.accessioned | 2015-11-09T10:23:29Z | - |
dc.date.available | 2015-11-09T10:23:29Z | - |
dc.date.issued | 2005 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/7384 | - |
dc.description.abstract | Разработана новая методика введения маркера в подложку предварительной ионной имплантацией ксенона для определения границы раздела фаз покрытие – подложка. Данная методика в сочетании с резерфордовским обратным рассеянием ионов гелия позволила установить реальную границу, точность которой определяется страгглингом пробега (±5,7 нм) ионов ксенона в кремнии, между металлсодержащим покрытием и кремниевой подложкой и выявить процессы взаимопроникновения элементов покрытия вглубь подложки и встречной диффузии элементов подложки в покрытие. | ru_RU |
dc.language.iso | other | ru_RU |
dc.publisher | БГТУ, Минск | ru_RU |
dc.relation.ispartofseries | Труды Белорусского государственного технологического университета. Сер. VI. Физико-математические науки и информатика;вып. VIII, с. 90–92 | - |
dc.subject | БГПУ | ru_RU |
dc.subject | ионно-ассистированное нанесение покрытий | ru_RU |
dc.subject | метод ИАНПУС | ru_RU |
dc.subject | маркер ксенон | ru_RU |
dc.subject | покрытие Ti – Si | ru_RU |
dc.title | Изучение границы раздела фаз в структуре Ti – Si с применением Хе маркера | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Труды_БГТУ.pdf | 2,01 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.