Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/5064
Название: Исследование структуры и свойств тонких пленок полупроводниковых материалов систем PbS и SnS, получаемых методами физического вакуумного напыления
Другие названия: Отчет о НИР
Авторы: Ташлыков, Игорь Серафимович
Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна
Барайшук, Сергей Михайлович
Бобрович, Олег Георгиевич
Михалкович, Олег Михайлович
Туровец, А. И.
Сильванович, Дмитрий Александрович
Ключевые слова: полупроводниковые материалы
сканирующая электронная и зондовая микроскопия
смачиваемость поверхности материалов
вакуумное напыление
издания БГПУ
композиционный состав
микроструктура
Дата публикации: 2013
Издатель: БГПУ
Описание: Исследование структуры и свойств тонких пленок полупроводниковых материалов систем PbS и SnS, получаемых методами физического вакуумного напыления [Текст]: отчет о НИР (заключит.): /БГПУ; рук. Ташлыков И.С.; исполн.: С.М. Барайшук, О.Г. Бобрович, И.И. Ташлыкова-Бушкевич, О.М. Михалкович, А.И. Туровец, Д.А. Сильванович.- Мн., 2013. - 68 с., 41 ил., 10 табл., 1 прил. - Библиогр.: С 67-68 (52 назв.). - № ГР 20111183.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.bspu.by/handle/doc/5064
Располагается в коллекциях:Материалы научно-исследовательского сектора

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Ташлыков_ГПНИ-2013.docxРеферат отчета о НИР25,44 kBMicrosoft Word XMLПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.