Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/31404
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.contributor.authorМихалкович, Олег Михайлович-
dc.date.accessioned2018-03-03T12:53:22Z-
dc.date.available2018-03-03T12:53:22Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/31404-
dc.description.abstractОбсуждаются результаты изучения композиционного состава, повреждения структуры, топографии поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением покрытий в условиях самооблучения (ИАНПУС).ru_RU
dc.language.isootherru_RU
dc.publisherБГУ, Минскru_RU
dc.relation.ispartofseriesСборник научных трудов II Международной научной конференции «Материалы и структуры современной электроники». Минск, 5–6 октября 2006 г.;с. 20–25-
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectкремнийru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectионно-ассистированное нанесение покрытий в условиях самооблученияru_RU
dc.subjectкомпозиционный составru_RU
dc.subjectповреждение структурыru_RU
dc.subjectтопография поверхностиru_RU
dc.titleДиагностика поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением тонких пленокru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
3-МССЭ-2006-20-МОМ.pdf1,11 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.