Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.bspu.by/handle/doc/29640
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМихалкович, Олег Михайлович-
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И.И.-
dc.contributor.authorЯковенко, Юлия Сергеевна-
dc.contributor.authorКуликаускас, В.С.-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.contributor.authorБобрович, Олег Георгиевич-
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович-
dc.date.accessioned2018-01-12T13:31:16Z-
dc.date.available2018-01-12T13:31:16Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/29640-
dc.description.abstractОбсуждаются результаты изучения топографии и смачиваемости дистиллированной водой поверхности систем пленка Mo, Al, Al+1 ат% Cr/стеклянная подложка, полученных методом осаждения покрытий при ассистировании собственными ионами (ОПАСИ). Обнаружено, что нанесение металлической пленки на стекло приводит к увеличению равновесного краевого угла смачивания (РКУС), то есть к снижению гидрофильности поверхности. На смачиваемость поверхности полученных структур влияют следующие факторы: химический состав материала и морфология поверхности.ru_RU
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseries11-я Международная конференция «Взаимодействие излучений с твердым телом», 23–25 сентября 2015 г., Минск;с. 248–250-
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectстеклоru_RU
dc.subjectметаллru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectтопография поверхностиru_RU
dc.subjectсмачиваемостьru_RU
dc.subjectионно-ассистированное осаждение покрытий методом ассистирования собственными ионами (ОПАСИ)ru_RU
dc.titleМорфология и смачиваемость поверхности структур пленка Mo, Al, Al+1ат.%Cr/стекло, сформированных ионно-ассистированным осаждениемru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации физико-математического факультета

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
4-ВИТТ2015-248-МОМ.pdf989,72 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.