Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elib.bspu.by/handle/doc/27600Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Колешко, В. М. | - |
| dc.contributor.author | Кирюшин, И. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-10-09T10:31:58Z | - |
| dc.date.available | 2017-10-09T10:31:58Z | - |
| dc.date.issued | 1990 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/27600 | - |
| dc.description.abstract | Установлена связь между порогом электромиграции в тонкопленочных проводниках и механическими свойствами металлов. С помощью диаграммы механизмов деформации рассмотрены способы релаксации механических напряжений | ru_RU |
| dc.language.iso | en | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Thin Solid Films;192 | - |
| dc.subject | электромиграция | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | массоперенос | ru_RU |
| dc.subject | механические напряжения | ru_RU |
| dc.subject | механизмы деформации | ru_RU |
| dc.title | Electromigration threshold of thin-film conductors | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации физико-математического факультета | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 1.pdf | 930,72 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.