О роли природы примеси в повреждении GaAs, имплантированном ионами Al+ и P+

dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович
dc.contributor.authorПоздеева, Татьяна Васильевна
dc.contributor.authorКальбитцер, З.
dc.date.accessioned2016-01-20T11:39:23Z
dc.date.available2016-01-20T11:39:23Z
dc.date.issued1987
dc.description.abstractРезультаты настоящего исследования показывают, что влияние природы внедряемой примеси на торможение процессов отжига дефектов в GaAs, имплантированном Al+ и P+, эффективно даже при малых (в максимуме распределения N(P,Al)=0,2 ат %) количествах внедренной примеси.ru_RU
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/9196
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseriesФизика и техника полупроводников;т. 21, вып. 4, с. 728–729
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectарсенид галлияru_RU
dc.subjectимплантация ионамиru_RU
dc.subjectалюминийru_RU
dc.subjectфосфорru_RU
dc.subjectвнедряемая примесьru_RU
dc.titleО роли природы примеси в повреждении GaAs, имплантированном ионами Al+ и P+ru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
6-3-ФиТП-1987-21(728-729).pdf
Size:
603.32 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
105 B
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: