О влиянии интерференционных процессов в рассеянии электронов на проводящие свойства низкоразмерных проводников

dc.contributor.authorСоболь, Валерий Романович
dc.contributor.authorФранцкевич, Н. В.
dc.date.accessioned2016-11-04T09:07:32Z
dc.date.available2016-11-04T09:07:32Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractИзучается влияние интерференционных процессов в рассеянии электронов на проводящие свойства низкоразмерных проводников. Сделан вывод, что для малых по объему образцов интерференция амплитуд вероятности рассеяния электрона, вызываемая недиагональными матричными элементами энергии взаимодействия, приводит к уменьшению среднего времени между столкновениями.ru_RU
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/16317
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseries33-е Всероссийское совещание по физике низких температур. Екатеринбург, 17–20 июня 2003 г.;с. 318–319
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectпроводник малого размераru_RU
dc.subjectинтерференция амплитуд вероятности рассеяния электронаru_RU
dc.subjectпроводящие свойстваru_RU
dc.titleО влиянии интерференционных процессов в рассеянии электронов на проводящие свойства низкоразмерных проводниковru_RU
dc.typeWorking Paperru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
11-Сов_ФНТ-Екатеринбург-2003-1-СВР.pdf
Size:
592.89 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
105 B
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: