Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких плёнок,сформированных методом ионно-ассистированного осаждения

dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович
dc.contributor.authorЯковенко, Юлия Сергеевна
dc.contributor.authorБайрашук, С. М.
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна
dc.contributor.authorМихалкович, Олег Михайлович
dc.date.accessioned2020-05-29T08:30:50Z
dc.date.available2020-05-29T08:30:50Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractВ работе представлены результаты исследования топографии поверхности тонких плёнок,сформированных ионно-ассистированным осаждением на стеклянных подложкахru_RU
dc.identifier.urihttp://elib.bspu.by/handle/doc/47941
dc.language.isootherru_RU
dc.relation.ispartofseriesМетодологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии .Сборник докладов XII Международной конференции;С. 94-98
dc.subjectБГПУru_RU
dc.subjectморфологияru_RU
dc.subjectшероховатостьru_RU
dc.subjectтонкие плёнкиru_RU
dc.subjectионно-ассистированное осаждениеru_RU
dc.titleПрименение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких плёнок,сформированных методом ионно-ассистированного осажденияru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
применение метода атомно-силовой микроскопии.pdf
Size:
761 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
197 B
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: