Определение ширины запрещённой зоны полупроводникового материала с помощью диода
| dc.contributor.author | Козел, Ромуальд Николаевич | |
| dc.contributor.author | Равков, А. В. | |
| dc.date.accessioned | 2015-12-11T10:09:12Z | |
| dc.date.available | 2015-12-11T10:09:12Z | |
| dc.date.issued | 1974 | |
| dc.description.abstract | В статье предлагается метод определения ширины запрещённой зоны полупроводникового материала, используя вольтамперную характеристику полупроводникового диода | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://elib.bspu.by/handle/doc/7988 | |
| dc.language.iso | other | ru_RU |
| dc.relation.ispartofseries | Свойства и структура газов, жидкостей и твёрдых тел: сборник научных трудов; | |
| dc.subject | БГПУ | ru_RU |
| dc.subject | полупроводники | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковый диод | ru_RU |
| dc.subject | электронно-дырочный переход | ru_RU |
| dc.title | Определение ширины запрещённой зоны полупроводникового материала с помощью диода | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |