МЕТОДИКА КОРРЕКЦИИ ГИСТЕРЕЗИСА ПЬЕЗОСКАНЕРА АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА
Loading...
Date
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Объединенный институт машиностроения НАН Беларуси
Abstract
Предлагается способ программной коррекции гистерезиса пьезосканера атомно силового микроскопа.
Приводится алгоритм коррекции и пример его применения для образцов кремния, слюды, полисульфона,
а также фиксированных клеток эритроцитов и тромбоцитов человека. Показано, что предложенная
методика позволяет эффективно устранять расхождение между кривыми подвода и отвода рабочей
площадки, обусловленное гистерезисом пьезосканера, и действительна для разных времен задержки
между измерениями в соседних точках этих кривых.
Description
Keywords
статическая силовая спектроскопия, точка контакта, гистерезис пьезосканера