Просмотр собрания по группе - Авторы Михалкович, Олег Михайлович

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
Или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 20 из 41  Дальше >
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2009Влияние дозы ускоренных ионов Хе+ на повреждение кремния при ионно-ассистированном нанесении Ti покрытийТашлыков, Игорь Серафимович; Михалкович, Олег Михайлович; Антонович, И. П.; Туровец, А. И.; Ермаков, Ю. А.; Черныш, B. C.
2013Влияние ионно-лучевой обработки на нанотвердость и смачиваемость поверхности кремнияБарайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович; Сильванович, Дмитрий Александрович
2013Влияние ионно-лучевой обработки на нанотвердость и смачиваемость поверхности кремнияБарайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2010Влияние облучения ионами Хе+ на диффузионные процессы в кремнии при ионно-ассистированном осаждении покрытийМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2010Влияние облучения кремния ионами Хе+ на повреждение его структуры, топографию и смачиваемость нанесенных на него Ti и Со покрытийМихалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Ермаков, Ю. А.; Черныш, B. C.
2007Дефектообразование в кремнии при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2008Дефектообразование в кремнии при нанесении металлопокрытий в условиях ионного ассистированияМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2006Диагностика поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2013Диффузионные процессы в кремнии, модифицированном осаждением Со покрытий в сочетании с облучением ионами Хе+Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2014Использование ИКТ в организации деятельности учащихся при подготовке к конкурсам исследовательских работЖурова, Т. И.; Королик, С. И.; Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2013Исследование структуры и свойств тонких пленок полупроводниковых материалов систем PbS и SnS, получаемых методами физического вакуумного напыленияТашлыков, Игорь Серафимович; Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна; Барайшук, Сергей Михайлович; Бобрович, Олег Георгиевич; Михалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.; Сильванович, Дмитрий Александрович
2015Исследование структуры и свойств тонких пленок полупроводниковых материалов систем PbS и SnS, получаемых методами физического вакуумного напыленияТашлыков, Игорь Серафимович; Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна; Михалкович, Олег Михайлович; Туровец, А. И.; Яковенко, Юлия Сергеевна
2009Композиционный состав и повреждение поверхности кремния при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Бобрович, Олег Георгиевич; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович; Антонович, И. П.
2013Композиционный состав и свойства поверхности систем Ме/Si, получаемых осаждением тонких пленок Ti и Co при ассистировании собственными ионамиМихалкович, Олег Михайлович; Барайшук, Сергей Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2014Композиционный состав поверхности тыльного контакта солнечных элементов, нанесенных на стеклянную подложку методом ОПАСИМихалкович, Олег Михайлович; Бобрович, Олег Георгиевич; Барайшук, Сергей Михайлович; Куликаускас, B. C.; Туровец, А. И.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2012Локализация атомов Со в облученном ионами ксенона кремнии при ионно-ассистированном нанесении на него тонких Со пленокМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2011Массоперенос в Si при нанесении Ti тонких пленок, ассистированном собственными ионамиМихалкович, Олег Михайлович; Гусаков, В.Е.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2011Массоперенос в кремнии элементов Со покрытия, нанесенного при ассистировании собственными ионамиМихалкович, Олег Михайлович; Гусаков, В.Е.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2017Математическое определение краевого угла смачивания твердых тел водой методом моделирования контура капли, касательных к ней, поверхности и контактных угловБарайшук, Сергей Михайлович; Хуан, Xэй Лин; Михалкович, Олег Михайлович; Бобрович, Олег Георгиевич
2015Морфология и смачиваемость поверхности структур пленка Mo, Al, Al+1ат.%Cr/стекло, сформированных ионно-ассистированным осаждениемМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна; Яковенко, Юлия Сергеевна; Куликаускас, В.С.; Барайшук, Сергей Михайлович; Бобрович, Олег Георгиевич; Ташлыков, Игорь Серафимович