1. Репозиторий БГПУ
  2. ФАКУЛЬТЕТЫ. ИНСТИТУТЫ
  3. Физико-математический факультет
  4. Научные публикации физико-математического факультета

поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результата поиска..

 | 
Результаты 1-10 из 41.
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2007Дефектообразование в кремнии при ионно-ассистированном нанесении тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2006Диагностика поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным нанесением тонких пленокТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Михалкович, Олег Михайлович
2008Дефектообразование в кремнии при нанесении металлопокрытий в условиях ионного ассистированияМихалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2011Массоперенос в Si при нанесении Ti тонких пленок, ассистированном собственными ионамиМихалкович, Олег Михайлович; Гусаков, В.Е.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2014Состав и морфология покрытий Ti, W, осажденных на кремний при ионном ассистированииБобрович, Олег Георгиевич; Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
2015Процессы массопереноса в кремнии,модифицированном осаждением CO покрытий в сочетании с облучением ионами Xe+Ташлыков, Игорь Серафимович; Михалкович, О.М.
2013Диффузионные процессы в кремнии, модифицированном осаждением Со покрытий в сочетании с облучением ионами Хе+Михалкович, Олег Михайлович; Ташлыков, Игорь Серафимович
1988Mechanical stresses in low pressure chemically vapour deposited silicon filmsКолешко, В. М.; Белицкий, В. Ф.; Кирюшин, И. В.
1988Deformation mechanism maps and gettering diagrams for single-crystal siliconКолешко, В. М.; Кирюшин, И. В.
2008Повреждение поверхности кремния при ионно-ассистированном осаждении Ti и Co покрытийТашлыков, Игорь Серафимович; Михалкович, Олег Михайлович

Открыть