поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результата поиска..


Результаты 111-120 из 138.
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2012Элементный состав и распределение компонентов по глубине в структурах Pd/Fe,полученных методом динамического атомного перемешиванияТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Литвинов, Д. А.
2010Изучение поверхности структур металл / кремний, приготовленных ионно-ассистированным нанесением покрытийТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Барайшук, Сергей Михайлович
2006Механические свойства и топография поверхности кремния, модифицированного ионно-ассистированным осаждением покрытийТульев, Валентин Валентинович; Ташлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Уляшко, П. В.
2009Модифицирование нанотвердости и морфологии поверхности кремния ионно-ассистированным нанесением тонких пленокБарайшук, Сергей Михайлович; Тульев, Валентин Валентинович; Гременок, В. Ф.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2011Состав и нанотвёрдость покрытий на Si,полученных методом ионно-ассистированного осажденияТашлыков, Игорь Серафимович; Барайшук, Сергей Михайлович; Тульев, Валентин Валентинович; Гременок, В. Ф.
2016Микротвёрдость поверхности алюминия и сплава АК9,модифицированной осаждением покрытий Mo И W в условиях ионного ассистированияТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович
2014Влияние параметров осаждения на толщину модифицированного слоя при динамическом атомном перемешивании Pd/Fe-структурТашлыков, Игорь Серафимович; Тульев, Валентин Валентинович; Литвинов, Д. А.
2014Влияние параметров ионно-ассистируемого осаждения на формирование Me/Si-структурТашлыков, Игорь Серафимович; Бобрович, О. Г.; Тульев, Валентин Валентинович
2009Микроструктура и оптические свойства тонких плёнок оксида цинка,полученных методом магнетронного распыления цинковой мишениТашлыков, Игорь Серафимович; Гончарова, О. В.; Леонова, Т. Р.; Гременок, В. Ф.; Болодон, В. Н.; Дымонт, В. П.
1982Различия в радиационном повреждении GaAs при имплантации ионов P и AlДэвис, Дж.; Ташлыков, Игорь Серафимович; Томпсон, Д. А.